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浅谈DR平板成像系统中影响平板探测器空间分辨率

发布日期:2020-03-12 14:11 浏览次数:
  对于DR平板成像系统,相信大家在之前小编对于它的介绍当中,已经有了一定的了解程度了,那么大家是否知道DR平板成像系统中影响平板探测器空间分辨率的因素呢,相信大家应该都不是很清楚吧,现在小编就给大家介绍一下:
DR平板成像
  在直接转换平板探测器中,空间分辨率由每单位面积的薄膜晶体管矩阵的大小(像素大小)决定。
 
  矩阵越大,薄膜晶体管的数量越多(像素尺寸越小),空间分辨率越高,空间分辨率就越高。
 
  在间接转换平板探测器中,空间分辨率不仅取决于每单位面积的薄膜晶体管矩阵的尺寸,还取决于由于散射现象引起的散射光的控制技术。
 
  因此,间接转换平板探测器的空间分辨率低于直接转换平板探测器的空间分辨率。
 
  平板探测器主要有上述两种模式的转换形式,它们的主要区别在于制造结构。这两种类型的检测器各有优缺点
 
  由于间接转换平板探测器的闪烁体层的晶体结构,在传输信号时不可避免的会发生光散射,吸收率会降低,但最终的图像质量并不大,其较高的量子探测效率(DQE)可以在较低剂量曝光的情况下获得高质量的图像,由于成像速度快,大大增加了射线探测的应用范围。
 
  直接转换平板探测器使用硒作为光电导体,可以直接将光信号转换成电信号,以避免散射。
 
  然而,x光的吸收率很低,并且在低剂量条件下不能很好地保证图像质量。此外,硒层对温度敏感,其应用条件有限。
 
  与非晶硅平板探测器相比,无定形硒平板探测器的图像质量更清晰,清晰度更好。
 
  然而,与非晶硅平板探测器相比,非晶硅平板探测器对工作环境的要求非常高,使用寿命短,故障率高,维护成本高得多。
 
  因此,目前非晶硅平板探测器仍然是市场上的主导产业。
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